Suchergebnisse - LISANKE MICHAEL GERARD | OPAC THWS

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Optische Vorrichtung zur schnellen Defektanalyse von LU, HUIZONG, PENA, LANPHUONG THI, SCHNETZER, ERIC V, DORUNDO, ALAN D, TAHERI, ALI REZA, LISANKE, MICHAEL GERARD, MCCORMICK, RICHARD J

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Optical apparatus for rapid defect analysis von LU, HUIZONG, PENA, LANPHUONG THI, SCHNETZER, ERIC V, DORUNDO, ALAN D, TAHERI, ALI REZA, LISANKE, MICHAEL GERARD, MCCORMICK, RICHARD J

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LASER TEXTURING APPARATUS WITH DUAL LASER PATHS HAVING AN INDEPENDENTLY ADJUSTED PARAMETER von LANPHUONG THI PENA, BENJAMIN KARNI, PETER P CHRUSCH, MICHAEL BARENBOIM, BENNY MICHAEL HARPER, PETER MICHAEL BAUMGART, ERIC V SCHNETZER, ALI REZA TAHERI, MICHAEL GERARD LISANKE, ANDREW CHING TAM, HUIZONG LU, HONG S SEING, PIETER J M KERSTENS

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Optical apparatus for rapid defect analysis von DORUNDO, ALAN D, LISANKE, MICHAEL GERARD, TAHERI, ALI REZA, PENA, LANPHUONG THI, LU, HUIZONG, SCHNETZER, ERIC V, MCCORMICK, RICHARD J

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5

APPARATUS FOR INSPECTING HIGH-SPEED DEFECT ANALYSIS von TAHERI ALI REZA, DORUNDO ALAN D, SCHNETZER ERIC V, MCCORMICK RICHARD J, LISANKE MICHAEL GERARD, PENA LANPHUONG THI, LU HUIZONG

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Optical apparatus for rapid defect analysis von LU, HUIZONG, PENA, LANPHUONG THI, SCHNETZER, ERIC V, DORUNDO, ALAN D, TAHERI, ALI REZA, LISANKE, MICHAEL GERARD, MCCORMICK, RICHARD J

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Laser texturing apparatus with dual laser paths having an independently adjusted parameter von LISANKE, MICHAEL GERARD, TAHERI, ALI REZA, CHRUSCH, PETER P, PENA, LANPHUONG THI, BARENBOIM, MICHAEL, KERSTENS, PIETER J. M, SCHNETZER, ERIC V, HARPER, BENNY MICHAEL, SEING, HONG S, BAUMGART, PETER MICHAEL, LU, HUIZONG, TAM, ANDREW CHING, KAMI, BENJAMIN

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Laser texturing apparatus with dual laser paths having an independently adjusted parameter von KARNI BENJAMIN, SCHNETZER, ERIC, V, CHRUSCH PETER PAUL, LISANKE MICHAEL GERARD, PENA LANPHUONG THI, SEING, HONG, S, HARPER BENNY MICHAEL, TAHERI ALI REZA, BAUMGART PETER MICHAEL, KERSTENS, PIETER, J., M, TAM ANDREW CHING, BARENBOIM MICHAEL, LU HUIZONG

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Optical apparatus for inspecting laser texture von KERSTENS, PIETER J.M, KARNI, BENJAMIN, LU, HUIZONG, BAUMGART, PETER MICHAEL, PENA, LANPHUONG THI, BARENBOIM, MICHAEL, CHRUSCH, PETER B, TAM, ANDREW CHING, HARPER, BENNY MICHAEL, TAHERI, ALI REZA, SEING, HONG S, LISANKE, MICHAEL GERARD

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Optical apparatus for inspecting laser texture von KARNI, BENJAMIN, SEING, HONG S, BAUMGART, PETER MICHAEL, LISANKE, MICHAEL GERARD, TAHERI, ALI REZA, CHRUSCH, PETER P, PENA, LANPHUONG THI, LU, HUIZONG, BARENBOIM, MICHAEL, KERSTENS, PIETER J. M, TAM, ANDREW CHING, HARPER, BENNY MICHAEL

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Apparatus and method for storing interferometric images of scanned defects and for subsequent static analysis of such defects von DORUNDO, ALAN DAVID, LISANKE, MICHAEL GERARD, TAHERI, ALI REZA, PENA, LANPHUONG THI, LU, HUIZONG, WATTS, KENNETH WAYNE, SO, SAMUEL SHEUNG-LOK, WHITAKER, DARELL SMITH, BOU-GHANNAM, AKRAM AREF

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Optical apparatus for rapid defect analysis von RICHARD J. MCCORMICK, LANPHUONG THIPENA, MICHAEL GERARD LISANKE, HUIZONGLU, ALIREZA TAHERI, ALAN D. DORUNDO

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