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    High speed multiple memory interface I/O cell

    High speed multiple memory interface I/O cell von LIN HONG-HIM, KONG CHENG-GANG, BHAKTA DHARMESH, RANDAZZO TODD

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    SYSTEM FOR TERMINATING HIGH SPEED INPUT/OUTPUT BUFFERS IN AN AUTOMATIC TEST EQUIPMENT ENVIRONMENT TO ENABLE EXTERNAL LOOPBACK TESTING

    SYSTEM FOR TERMINATING HIGH SPEED INPUT/OUTPUT BUFFERS IN AN AUTOMATIC TEST EQUIPMENT ENVIRONMENT TO ENABLE EXTERNAL LOOPBACK TESTING von BUTT DERRICK SAI-TANG, CARKEEK DAVID, LIN HONG-HIM

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