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EM defectoscope of high sensitivity
von
DALIN ALBERT VASILIEVICH
,
NIKOLAEV VIKTOR ALEXEEVICH
,
ALEXEEV GEORGY ALEXEEVICH
,
KNYAZEV EVGENY ALEXEEVICH
,
LETUNOV ANATOLY VLADIMIROVICH
,
SHAGABEEV RINAT SHAGAVALEEVICH
,
YAKUSHEV MIKHAIL LEONIDOVICH
,
NOVOBYTOV PAVEL ALEXANDROVICH
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Patent
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INCRINOSCOPIO ELETTROMAGNETICO IN PARTICOLARE PER IL CONTROLLO NONDISTRUTTIVO DI MATERIALI E PEZZI
von
RINAT SHAGAVALEEVICH SHAGABEEV
,
ANATOLY VLADIMIROVICH LETUNOV
,
PAVEL ALEXANDROVICH NOVOBYTOV
,
VIKTOR ALEXEEVICH NIKOLAEV
,
ALBERT VASILIEVICH DALIN
,
EVGENY ALEXEEVICH KNYAZEV
,
GEORGY ALEXEEVICH ALEXEEV
,
MIKHAIL LEONIDOVICH YAKUSHEV
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Investigating Or Analysing Materials By Determining Theirchemical Or Physical Properties
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Esp@Cenet
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