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Thermal instability of low voltage power-MOSFETs
Veröffentlicht in IEEE transactions on power electronics
VolltextArtikel -
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Fast thermal fatigue on top metal layer of power devices
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
VolltextArtikel -
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Static and dynamic behavior of paralleled IGBTs
Veröffentlicht in IEEE transactions on industry applications
VolltextArtikel -
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