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(Invited) HfZrO-Based Ferroelectric Devices for Lower Power AI and Memory Applications
Veröffentlicht in ECS transactions
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Optimal Placement of Fault Indicators Using the Immune Algorithm
Veröffentlicht in IEEE transactions on power systems
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Defect control of Y2O3-based SiGe MOS interfaces properties
Veröffentlicht in JSAP Annual Meetings Extended Abstracts
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