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Effects of ion implantation on charges in the silicon–silicon dioxide system
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Anodization of aluminum to inhibit hillock growth during high temperature processing
Veröffentlicht in Thin solid films
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Growth of borosilicate and borophosphosilicate films at low pressure and temperature
Veröffentlicht in Thin solid films
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Aluminum alloy film deposition and characterization
Veröffentlicht in Thin solid films
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Methods for minimizing silicon regrowth in aluminum films
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Studies of silicon regrowth with aluminum and aluminum alloy metallizations
Veröffentlicht in Thin solid films
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Evolution and Current Status of Al Metallization
Veröffentlicht in Journal of the Electrochemical Society
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Electromigration Effects in Al Alloy Metallization
Veröffentlicht in Journal of electronic materials
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Methods for Minimizing Silicon Rerowth in Aluminum Films
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Evolution and Current Status of Aluminum Metallization
Veröffentlicht in Journal of the Electrochemical Society
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