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Real-time reflectance anisotropy spectroscopy of GaAs homoepitaxy
Veröffentlicht in Applied optics (2004)
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An algorithm for the in situ analysis of optical reflectance anisotropy spectra
Veröffentlicht in Journal of crystal growth
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Determination of the energy states of the donor acceptor decay emission in silicon rich oxide prepared by low-pressure chemical vapor deposition
Veröffentlicht in Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena
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