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An experimental 16-Mbit DRAM with reduced peak-current noise
von
Chin, Daeje
,
Kim, Changhyun
,
Choi, Yunho
,
Min, Dong-sun
,
Hwang, Hong Sun
,
Choi, Hoon
,
Cho, Sooin
,
Chung, Tae Young
,
Park, Chan J
,
Shin, Yunseung
,
Suh, Kwangpyuk
,
Park, Yong E
Veröffentlicht in
IEEE journal of solid-state circuits
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Integration and reliability of a noble TiZr/TiZrN alloy barrier for Cu/low-k interconnects
von
Bong-Seok Suh
,
Seung-Man Choi
,
Youngjin Wee
,
Jung-Eun Lee
,
Junho Lee
,
Sun-Jung Lee
,
Soo-Geun Lee
,
Hongjae Shin
,
Nae-In Lee
,
Ho-Kyu Kang
,
Kwangpyuk Suh
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