-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
-
6
-
7
-
8
Extraction of Passive Device Model Parameters Using Genetic Algorithms
Veröffentlicht in ETRI journal
VolltextArtikel -
9
-
10
-
11
Effects of heat-up procedure and grating depth on the erosion of InGaAs grating
Veröffentlicht in Journal of crystal growth
VolltextArtikel -
12
Failure analysis for RF characteristics of GaAs MESFETs
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
VolltextArtikel -
13
-
14
-
15
Degradation mechanism of GaAs MESFETs
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
VolltextArtikel -
16
-
17
-
18
-
19
-
20