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Measurement of the thickness of natural oxide on a silicon relief step structure
Veröffentlicht in Measurement techniques
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Nanolocalised source of femtosecond radiation
Veröffentlicht in Quantum electronics (Woodbury, N.Y.)
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Reconstructed silicon surfaces for calibration of scanning tunnel microscopes
Veröffentlicht in Measurement techniques
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Standard sample for calibration of transmission electron microscopes
Veröffentlicht in Measurement techniques
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