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Development of a Frequency-Offset-Locked He–Xe Laser at 3.51 µm
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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Phase evaluation for electronic speckle-pattern interferometry deformation analyses
Veröffentlicht in Optics letters
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Phase evaluation for electronic speckle-pattern interferometry deformation analyses
Veröffentlicht in Applied optics (2004)
VolltextArtikel -
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