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    The efficient simulation of coupled point defect and impurity diffusion

    The efficient simulation of coupled point defect and impurity diffusion von Kump, M.R., Dutton, R.W.


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    Field distribution and avalanche breakdown of trench MOS capacitors operated in deep depletion von Bulucea, C., Kump, M.R., Amberiadis, K.


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    Process design using two-dimensional process and device simulators

    Process design using two-dimensional process and device simulators von Daeje Chin, Kump, M.R., Hee-Gook Lee, Dutton, R.W.


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