-
1
Electromigration-induced morphology of 70 nm Al-Cu and Al lines
Veröffentlicht in Journal of the Electrochemical Society
VolltextArtikel -
2
Electromigration in nanometer Al-Cu interconnect lines
Veröffentlicht in Journal of the Electrochemical Society
VolltextArtikel -
3
Self-consistent study of the resonant-tunneling diode
Veröffentlicht in Physical review. B, Condensed matter
VolltextArtikel -
4
-
5
Effects of contact geometry in wide Hall bars
Veröffentlicht in Applied surface science
VolltextArtikel -
6
-
7
-
8
Quantum Hall effect in lateral surface superlattices
Veröffentlicht in Journal of physics. Condensed matter
VolltextArtikel -
9
Transient switching behavior of the resonant-tunneling diode
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
VolltextArtikel -
10
-
11
-
12
Statistical properties of hard-wall potentials
Veröffentlicht in Physics letters. A
VolltextArtikel -
13
-
14
Overshoot saturation in ultra-submicron FETs due to minimum acceleration lengths
Veröffentlicht in Solid-state electronics
VolltextArtikel -
15
Exchange effects in hot plasmas in semiconductors
Veröffentlicht in Semiconductor science and technology
VolltextArtikel -
16
-
17
h/e Periodicity of weak localization in semiconductor surface superlattices
Veröffentlicht in Surface science
VolltextArtikel -
18
Magnetoconductance in lateral surface superlattices
Veröffentlicht in Surface science
VolltextArtikel -
19
-
20