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    Structural identification of point defects in amorphous silicon oxynitrides

    Structural identification of point defects in amorphous silicon oxynitrides von Cros, Y., Krautwurm, J.


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    Correlations between ESR and photoluminescence in slightly hydrogenated silicon nitride

    Correlations between ESR and photoluminescence in slightly hydrogenated silicon nitride von Savall, C, Bruyere, J C, Krautwurm, J


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    Investigation of the matrix cleaning process in HGMS

    Investigation of the matrix cleaning process in HGMS von Reffle, J., Krautwurm, V., Schewe, H., Hoffmann, Horst


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