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Technology and RBS analysis of porous silicon light-emitting diodes
Veröffentlicht in Thin solid films
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Analysis of Buried Nitride Layers Produced by Ion Implantation
Veröffentlicht in Key engineering materials
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Determination of impurity lattice sites in single crystals using PIXE channeling
Veröffentlicht in X-ray spectrometry
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Lattice site location of Ti diffused and doped in LiNbO3
Veröffentlicht in Physics letters. A
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Waveguides in LiNbO3 by varying angle implantation of HE
Veröffentlicht in Ferroelectrics. Letters section
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ANALYSIS OF BURIED NITRIDE LAYERS PRODUCED BY ION IMPLANTATION
Veröffentlicht in Key engineering materials
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Waveguides in KNbO3 by He+ implantation
Veröffentlicht in Ferroelectrics. Letters section
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The time evolution of compound elastic scattering measured by crystal blocking
Veröffentlicht in Nuclear physics. A
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