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Oxygen Defect Stability in Amorphous, C‑Axis Aligned, and Spinel IGZO
Veröffentlicht in ACS applied electronic materials
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(Invited) Sub-40mV Sigma V TH Igzo nFETs in 300mm Fab
Veröffentlicht in ECS transactions
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(Invited) Sub-40mV Sigma VTH Igzo nFETs in 300mm Fab
Veröffentlicht in ECS transactions
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(Invited) Sub-40mV Sigma V TH Igzo nFETs in 300mm Fab
Veröffentlicht in Meeting abstracts (Electrochemical Society)
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