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Relation between Defects on 4H-SiC Epitaxial Surface and Gate Oxide Reliability
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Kondo effect in a semiconductor quantum dot coupled to ferromagnetic electrodes
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The Integrated Evaluation Platform for SiC Wafers and Epitaxial Films
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BPD-TED Conversion in the SiC Substrate after High-Temperature Si-VE
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Simulations and Experiments of 3C-SiC/Si Heteroepitaxial Growth
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Tunneling magnetoresistance effect in a few-electron quantum-dot spin valve
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