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Hole Mobility Enhancement in Compressively Strained Ge0.93Sn0.07 pMOSFETs
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Hole Mobility Enhancement in Compressively Strained pMOSFETs
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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pMOSFET with 200% mobility enhancement induced by multiple stressors
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Pan-genome analysis of Bacillus for microbiome profiling
Veröffentlicht in Scientific reports
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