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    Effect of field oxide structure on endurance characteristics of NAND flash memory

    Effect of field oxide structure on endurance characteristics of NAND flash memory von Kim, Kiyong, Yoon, Joongho, Kim, Yungsam, Kim, Hongsig, Lee, Haebum, Cho, Insoo, Kim, Sangsoo, Choi, Byoungdeog

    Veröffentlicht in Electronics letters

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