-
1
-
2
The patterns of deleterious mutations during the domestication of soybean
Veröffentlicht in Nature communications
VolltextArtikel -
3
-
4
-
5
-
6
-
7
-
8
Characteristics of Resistive Memory Read Fluctuations in Endurance Cycling
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
VolltextArtikel -
9
-
10
Semi-Stream Similarity Join Processing in a Distributed Environment
Veröffentlicht in IEEE access
VolltextArtikel -
11
-
12
-
13
-
14
-
15
-
16
-
17
-
18
Rapid and Accurate C - V Measurements
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
19
-
20
Epitaxial ZnO thin film transistors on 4H-SiC substrates
Veröffentlicht in Ceramics international
VolltextArtikel