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Ultra-thin strained SOI substrate analysis by pseudo-MOS measurements
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Transfers of 2-inch GaN films onto sapphire substrates using Smart Cut technology
Veröffentlicht in Electronics letters
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Engineering strained silicon on insulator wafers with the Smart CutTM technology
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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Engineering strained silicon on insulator wafers with the Smart Cut TM technology
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