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    Influence of post-stress effects on the dynamic hot-carrier degradation behavior of passivated n-channel MOSFET's

    Influence of post-stress effects on the dynamic hot-carrier degradation behavior of passivated n-channel MOSFET's von Bellens, R., de Schrijver, E., Groeseneken, G., Keremans, P., Maes, H.E.

    Veröffentlicht in IEEE electron device letters

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