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Atomic scale structure of sputtered metal multilayers
Veröffentlicht in Acta materialia
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In situ site-specific specimen preparation for atom probe tomography
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
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Toward atom probe tomography of microelectronic devices
Veröffentlicht in Journal of physics. Conference series
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Encapsulation method for atom probe tomography analysis of nanoparticles
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
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Improvements in planar feature reconstructions in atom probe tomography
Veröffentlicht in Journal of microscopy (Oxford)
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Stabilization of carbon-fiber cold field-emission cathodes with a dielectric coating
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
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Atom probe tomography analysis of poly(3-alkylthiophene)s
Veröffentlicht in Journal of microscopy (Oxford)
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Measurement of Detection Efficiency in Atom Probe Tomography
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Performance Advances in LEAP systems
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Atom probe tomography of a commercial light emitting diode
Veröffentlicht in Journal of physics. Conference series
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Atom Probe Tomography Analysis of Grain Boundaries in CdTe
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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