Suchergebnisse - Kececioglu, D.B. | OPAC THWS

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Fitting the Weibull log-linear model to accelerated life-test data von Wang, W., Kececioglu, D.B.

Veröffentlicht in IEEE transactions on reliability

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2

Confidence limits on the inherent availability of equipment von Wendai Wang, Kececioglu, D.B.

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3

A simplified random vibration analysis on portable electronic products von Huang, W., Kececioglu, D.B., Prince, J.L.

Veröffentlicht in IEEE transactions on components and packaging technologies

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4

Parameter estimation for mixed-Weibull distribution von Kececioglu, D.B., Wendai Wang

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Combined-stress fatigue reliability analysis von Kececioglu, D.B., Jiliang Zhang

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6

A unified approach to random-fatigue reliability quantification under random loading von Kececioglu, D.B., Ming-Xiao Jiang, Feng-Bin Sun

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7

A physical approach for determining the optimum random-vibration screening duration von Feng-Bin Sun, Kececioglu, D.B.

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8

A new method for obtaining the TTT plot for a censored sample von Feng-Bin Sun, Kececloglu, D.B.

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