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Copper interconnection integration and reliability
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Analysis of flow between a wafer and pad during CMP processes
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Wettability of polished silicon oxide surfaces
Veröffentlicht in Journal of the Electrochemical Society
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Voltammetry and potentiometry of tetrathiafulvalene halides
Veröffentlicht in Analytical chemistry (Washington)
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Optical properties of charge transfer salts of tetracyanoquinodimethane (TCNQ)
Veröffentlicht in Solid state communications
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Polymer-modified electrodes: a new class of electrochromic materials
Veröffentlicht in Applied physics letters
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