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Mask characteristics for projection electron-beam lithography with demagnification imaging
von
Kaiwu, Peng
,
Fuan, Zhang
,
Guijun, Wu
,
Wenqi, Gu
,
Xia, Sun
,
Niankan, Kang
,
Qirong, Pu
,
Zejun, Ding
Veröffentlicht in
Microelectronic engineering
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DY-7 sub-0.1 micron EB lithography system
von
Gu, Wenqi
,
Kang, Niankan
,
Xue, Hong
,
Tan, Min
,
Wang, Liming
,
Zhang, Fuan
Veröffentlicht in
Microelectronic engineering
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Electron optics of variable rectangular shaped beam lithography system DJ-2
von
Niankan, Kang
Veröffentlicht in
Journal of electronics (China)
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DESIGN AND PERFORMANCE OF SHAPING DEFLECTORS FOR VARIABLY SHAPED ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY
von
康念坎 江钧基 吴伟 黄兰友 吴明均
Veröffentlicht in
Journal of electronics (China)
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