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New scaling guidelines for MNOS nonvolatile memory devices
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Yield and reliability of MNOS EEPROM products
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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An atomic model of the nitrous-oxide-nitrided SiO2/Si interface
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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A 5 V-only 64K dynamic RAM based on high S/N design
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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Single 5-V, 64k RAM with Scaled-Down MOS Structure
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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Cardiac metastatic liposarcoma
Veröffentlicht in General thoracic and cardiovascular surgery
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A new portrayal of electron and hole traps in amorphous silicon nitride
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Single 5-V, 64K RAM with scaled-down MOS structure
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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