-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
-
6
-
7
-
8
-
9
-
10
-
11
-
12
-
13
Fast interface characterization of tunnel oxide MOS structures
Veröffentlicht in IEEE transactions on nanotechnology
VolltextArtikel -
14
-
15
-
16
Vertical MOS transistors with 70 nm channel length
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
17
-
18
-
19
-
20
Reliability issues of scaled-down MOS transistors for gigabit circuits
Veröffentlicht in Microelectronics Reliability
VolltextArtikel