Digital Calibration Certificates in Metrology von KRAH, Thomas, SCHÖNHALS, Shanna

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Distinct patterns of brain Fos expression in Carioca High- and Low-conditioned Freezing Rats von León, Laura A., Brandão, Marcus L., Cardenas, Fernando P., Parra, Diana, Krahe, Thomas E., Cruz, Antonio Pedro Mello, Landeira-Fernandez, J.

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Novel 3D manufacturing method combining microelectrial discharge machining and electrochemical polishing von Richter, Claudia, Krah, Thomas, Büttgenbach, Stephanus

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Micro Coordinate Measuring Machine for Parallel Measurement of Microstructures von Krah, Thomas, Tutsch, Rainer, Schrader, Christian, Büttgenbach, Stephanus, Herbst, Christian

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Trends bei der Entwicklung von Normalen für die Mikro- und Nanomesstechnik: Herausforderungen und Lösungsansätze (Trends in Development of Standards for Micro- and Nanometrology: C... von Weckenmann, Albert, Wiedenhöfer, Thomas, Büttgenbach, Stephanus, Krah, Thomas, Fleischer, Jürgen, Buchholz, Ivesa, Viering, Benjamin, Kranzmann, Axel, Ritter, Martin, Krüger-Sehm, Rolf, Bakucz, Peter, Schmitt, Robert, Koerfer, Friedel

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Bonded wafer metrology von Sah, Kaushik, Eisenbach, Heiko, Krah, Thomas, Stoerring, Moritz, Li, Shifang

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BONDED WAFER METROLOGY von SAH, Kaushik, EISENBACH, Heiko, KRAH, Thomas, LI, Shifang, STOERRING, Moritz

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Bonded Wafer Metrology von Sah, Kaushik, Eisenbach, Heiko, Krah, Thomas, Stoerring, Moritz, Li, Shifang

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BONDED WAFER METROLOGY von SAH, Kaushik, EISENBACH, Heiko, KRAH, Thomas, LI, Shifang, STOERRING, Moritz

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Obtaining spinnable nettle fibers from stinging nettles, comprises decorticating stinging nettle straw and obtaining a nettle wool, moistening the nettle wool with water, washing t... von KRAH, THOMAS, KRANZ, HEINRICH

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BONDED WAFER METROLOGY von SAH, Kaushik, EISENBACH, Heiko, KRAH, Thomas, LI, Shifang, STOERRING, Moritz

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Metrology system, method for wafer metrology, and non-transitory computer readable medium von KRAH, THOMAS, STOERRING, MORITZ, SAH, KAUSHIK, LI, SHIFANG, EISENBACH, HEIKO

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Normal und zugehörige Verfahren von Kniel, Karin, Krah, Thomas, Härtig, Frank, Wedmann, Achim

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본딩된 웨이퍼 계측 von SAH KAUSHIK, LI SHIFANG, STOERRING MORITZ, KRAH THOMAS, EISENBACH HEIKO

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BONDED WAFER METROLOGY von SAH KAUSHIK, LI SHIFANG, STOERRING MORITZ, KRAH THOMAS, EISENBACH HEIKO

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Bonded wafer metrology von KRAH, THOMAS, STOERRING, MORITZ, SAH, KAUSHIK, LI, SHIFANG, EISENBACH, HEIKO

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Normal und zugehörige Verfahren von KRAH, THOMAS, KNIEL, KARIN, HÄRTIG, FRANK, WEDMANN, ACHIM

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Mikrotaster für eine Antastvorrichtung von KRAH, THOMAS, KNIEL, KARIN, HÄRTIG, FRANK, WEDMANN, ACHIM

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Radar vision in the mapping of forest biodiversity from space von Bae, Soyeon, Levick, Shaun R., Heidrich, Lea, Magdon, Paul, Leutner, Benjamin F., Wöllauer, Stephan, Serebryanyk, Alla, Nauss, Thomas, Krzystek, Peter, Gossner, Martin M., Schall, Peter, Heibl, Christoph, Bässler, Claus, Doerfler, Inken, Schulze, Ernst-Detlef, Krah, Franz-Sebastian, Culmsee, Heike, Jung, Kirsten, Heurich, Marco, Fischer, Markus, Seibold, Sebastian, Thorn, Simon, Gerlach, Tobias, Hothorn, Torsten, Weisser, Wolfgang W., Müller, Jörg

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European mushroom assemblages are darker in cold climates von Krah, Franz-Sebastian, Büntgen, Ulf, Schaefer, Hanno, Müller, Jörg, Andrew, Carrie, Boddy, Lynne, Diez, Jeffrey, Egli, Simon, Freckleton, Robert, Gange, Alan C., Halvorsen, Rune, Heegaard, Einar, Heideroth, Antje, Heibl, Christoph, Heilmann-Clausen, Jacob, Høiland, Klaus, Kar, Ritwika, Kauserud, Håvard, Kirk, Paul M., Kuyper, Thomas W., Krisai-Greilhuber, Irmgard, Norden, Jenni, Papastefanou, Phillip, Senn-Irlet, Beatrice, Bässler, Claus

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