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    Learning Quality Rating of As-Cut mc-Si Wafers via Convolutional Regression Networks

    Learning Quality Rating of As-Cut mc-Si Wafers via Convolutional Regression Networks von Demant, Matthias, Virtue, Patrick, Kovvali, Aditya, Yu, Stella X., Rein, Stefan

    Veröffentlicht in IEEE journal of photovoltaics

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    Visualizing Material Quality and Similarity of mc-Si Wafers Learned by Convolutional Regression Networks

    Visualizing Material Quality and Similarity of mc-Si Wafers Learned by Convolutional Regression Networks von Demant, Matthias, Virtue, Patrick, Kovvali, Aditya, Yu, Stella X., Rein, Stefan

    Veröffentlicht in IEEE journal of photovoltaics

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    About the relevance of defect features in as-cut multicrystalline silicon wafers on solar cell performance

    About the relevance of defect features in as-cut multicrystalline silicon wafers on solar cell performance von Kovvali, Aditya, Demant, Matthias, Trötschler, Theresa, Haunschild, Jonas, Rein, Stefan


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    Tagungsbericht

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    Verfahren zur Verarbeitung von Abbildungen von Halbleiterstrukturen, sowie zur Prozesscharakterisierung und Prozessoptimierung mittels semantischer Datenkompression

    Verfahren zur Verarbeitung von Abbildungen von Halbleiterstrukturen, sowie zur Prozesscharakterisierung und Prozessoptimierung mittels semantischer Datenkompression von Demant, Matthias, Rein, Stefan, Kovvali, Aditya Sai, Greulich, Johannes, Wöhrle, Nico

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    Patent

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  5. 5
    METHOD FOR PROCESSING IMAGES OF SEMICONDUCTOR STRUCTURES, AND FOR PROCESS CHARACTERIZATION AND PROCESS OPTIMIZATION BY MEANS OF SEMANTIC DATA COMPRESSION

    METHOD FOR PROCESSING IMAGES OF SEMICONDUCTOR STRUCTURES, AND FOR PROCESS CHARACTERIZATION AND PROCESS OPTIMIZATION BY MEANS OF SEMANTIC DATA COMPRESSION von KOVVALI ADITYA, GREULICH JOHANNES, WOHRLE NICO, DEMANT MATTHIAS, REIN STEFAN

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    Patent

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  6. 6
    METHOD FOR PROCESSING IMAGES OF SEMICONDUCTOR STRUCTURES, AND FOR PROCESS CHARACTERIZATION AND PROCESS OPTIMIZATION BY MEANS OF SEMANTIC DATA COMPRESSION

    METHOD FOR PROCESSING IMAGES OF SEMICONDUCTOR STRUCTURES, AND FOR PROCESS CHARACTERIZATION AND PROCESS OPTIMIZATION BY MEANS OF SEMANTIC DATA COMPRESSION von KOVVALI, Aditya, WÖHRLE, Nico, DEMANT, Matthias, REIN, Stefan, GREULICH, Johannes

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    Patent

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