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Stress voiding and electromigration phenomena in aluminum alloys
Veröffentlicht in Applied surface science
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Three-dimensional magnetic-field sensors
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Diffusion at the Al/Al oxide interface during electromigration in wide lines
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Integrated 3-D Magnetic sensor based on an n-p-n transistor
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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VA-6 two-dimensional simulation of latch-up in CMOS structure
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Integrated 3-D magnetic sensors based on an n-p-n transistor
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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