Suchergebnisse - KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND

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FEATURE FAILURE CORRELATION von KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND, ABERCROMBIE, DAVID

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Feature failure correlation von KOENEMANN BERND KARL FERDINAND, ABERCROMBIE DAVID

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Feature failure correlation von Abercrombie, David, Koenemann, Bernd Karl Ferdinand

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System for test data storage reduction von KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND

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System for test data storage reduction von KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND

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SYSTEM FOR TEST DATA STORAGE REDUCTION von KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND

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System for test data storage reduction von KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND

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Hybrid pattern self-testing of integrated circuits von KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND, WAICUKAUSKI, JOHN ARTHUR, WAGNER, KENNETH DAVID

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EP0548585 von KOENEMANN BERND KARL FERDINAND, MCANNEY WILLIAM HOWARD, SHULMAN MARK LEE

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Clocking mechanism for delay, short path and stuck-at testing von KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND, SHULMAN, MARK LEE, MCANNEY, WILLIAM HOWARD

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Hybrid pattern self-testing of integrated circuits von KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND, WAICUKAUSKI, JOHN ARTHUR, WAGNER, KENNETH DAVID

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Selbsttest integrierter Schaltungen mit hybriden Mustern von WAICUKAUSKI, JOHN ARTHUR, TULATIN, OREGON 97062, US, WAGNER, KENNETH DAVID, WAPPINGERS FALLS, NEW YORK 12590, US, KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND, HOPEWELL JUNCTION, NEW YORK 12533, US

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System zur Reduzierung von Prüfdatenspeichern von KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND, HOPEWELL JUNCTION, N. Y. 12533, US

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Feature failure correlation von KOENEMANN BERND KARL FERDINAND, ABERCROMBIE DAVID

Feature failure correlation von Abercrombie, David, Koenemann, Bernd Karl Ferdinand

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EP0548585 von KOENEMANN BERND KARL FERDINAND, MCANNEY WILLIAM HOWARD, SHULMAN MARK LEE

Clocking mechanism for delay, short path and stuck-at testing von KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND, SHULMAN, MARK LEE, MCANNEY, WILLIAM HOWARD

Hybrid pattern self-testing of integrated circuits von KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND, WAICUKAUSKI, JOHN ARTHUR, WAGNER, KENNETH DAVID

Selbsttest integrierter Schaltungen mit hybriden Mustern von WAICUKAUSKI, JOHN ARTHUR, TULATIN, OREGON 97062, US, WAGNER, KENNETH DAVID, WAPPINGERS FALLS, NEW YORK 12590, US, KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND, HOPEWELL JUNCTION, NEW YORK 12533, US

System zur Reduzierung von Prüfdatenspeichern von KOENEMANN, BERND KARL FERDINAND, HOPEWELL JUNCTION, N. Y. 12533, US

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