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Threshold voltage model for deep-submicrometer MOSFETs
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Dynamic threshold-voltage MOSFET (DTMOS) for ultra-low voltage VLSI
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Random telegraph noise of deep-submicrometer MOSFETs
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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A three-terminal SOI gated varactor for RF applications
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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