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    APPARATUS FOR MEASURING REFRACTIVE INDEX

    APPARATUS FOR MEASURING REFRACTIVE INDEX von KIN BUNKAN

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    WAFER CARRIER

    WAFER CARRIER von KIN BUNKAN, BOKU TOMEI

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    JP2923859B

    JP2923859B von KIN BUNKAN, OGITA EIJI, HIRUKAWA HIDEO

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    POLYMER DISPERSION LIQUID CRYSTAL MULTIPLE FILM HAVING ELECTROOPTIC CHARACTERISTIC MODIFIED IN POLYMER MATRIX, CELL USING THE FILM AND ITS PRODUCTION

    POLYMER DISPERSION LIQUID CRYSTAL MULTIPLE FILM HAVING ELECTROOPTIC CHARACTERISTIC MODIFIED IN POLYMER MATRIX, CELL USING THE FILM AND ITS PRODUCTION von BOKU SHUSHIN, RI SAIRAKU, KIN BUNKAN

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    LIQUID CRYSTAL EMULSION STABILIZED WITH ACRYLAMIDE COPOLYMER AND COMPOSITE LIQUID CRYSTAL FILM AND ITS PREPARATION

    LIQUID CRYSTAL EMULSION STABILIZED WITH ACRYLAMIDE COPOLYMER AND COMPOSITE LIQUID CRYSTAL FILM AND ITS PREPARATION von BOKU SHUSHIN, RI SAIRAKU, KIN BUNKAN

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    REFRACTIVE INDEX MEASURING APPARATUS

    REFRACTIVE INDEX MEASURING APPARATUS von KIN BUNKAN, HIRUKAWA HIDEO, OGITA EIJI

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    REFRACTIVE INDEX MEASURING INSTRUMENT

    REFRACTIVE INDEX MEASURING INSTRUMENT von KIN BUNKAN, OGITA EIJI, HIRUKAWA HIDEO

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    REFRACTIVE-INDEX MEASURING APPARATUS

    REFRACTIVE-INDEX MEASURING APPARATUS von KIN BUNKAN, KOMIYA SHINJI, IKEZAWA KATSUYA, HIRUKAWA HIDEO, ISOZAKI KATSUMI

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    APPARATUS FOR MEASURING REFRACTIVE INDEX OF AIR

    APPARATUS FOR MEASURING REFRACTIVE INDEX OF AIR von KIN BUNKAN, OGITA EIJI, HIRUKAWA HIDEO, ISOZAKI KATSUMI

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    REFRACTIVE-INDEX MEASURING APPARATUS

    REFRACTIVE-INDEX MEASURING APPARATUS von KIN BUNKAN, HIRUKAWA HIDEO, OGITA EIJI, TACHIKAWA YOSHIHIKO

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    INSTRUMENT FOR MEASURING REFRACTIVE INDEX OF FLUID

    INSTRUMENT FOR MEASURING REFRACTIVE INDEX OF FLUID von UEDA TOSHITSUGU, KIN BUNKAN, OGITA EIJI, IKEZAWA KATSUYA, TACHIKAWA YOSHIHIKO

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    REFRACTIVE INDEX MEASURING INSTRUMENT

    REFRACTIVE INDEX MEASURING INSTRUMENT von UEDA TOSHITSUGU, KIN BUNKAN, OGITA EIJI, TACHIKAWA YOSHIHIKO

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    JP2725434B

    JP2725434B von UEDA TOSHITSUGU, KOMYA SHINJI, KIN BUNKAN, OGITA EIJI, IKEZAWA KATSUYA, HIRUKAWA HIDEO, ISOZAKI KATSUMI, TACHIKAWA YOSHIHIKO

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    ABSOLUTE LENGTH MEASURING METHOD AND ABSOLUTE LENGTH MEASURING EQUIPMENT USING FM HETERODYNE

    ABSOLUTE LENGTH MEASURING METHOD AND ABSOLUTE LENGTH MEASURING EQUIPMENT USING FM HETERODYNE von UEDA TOSHITSUGU, KIN BUNKAN, KOMIYA SHINJI, OGITA EIJI, IKEZAWA KATSUYA, HIRUKAWA HIDEO, ISOZAKI KATSUMI, TACHIKAWA YOSHIHIKO

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    MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE

    MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE von RI RAIIN, KIN EIIKU, BOKU BUNKAN, GO KANEI

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