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Size dependence of Si 2p core-level shift at Si nanocrystal/SiO2 interfaces
Veröffentlicht in Applied physics letters
VolltextArtikel -
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Nonvolatile memories using deep traps formed in HfO2 by Nb ion implantation
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Nonvolatile-Memory Characteristics of AlO--Implanted Al2O3
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Nonvolatile memories by using charge traps in silicon-rich oxides
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Nonvolatile memories using deep traps formed in Al2O3 by metal ion implantation
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Nonvolatile memories using deep traps formed in HfO 2 by Nb ion implantation
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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