Suchergebnisse - KIM KEE SUP

1

X-compact: an efficient response compaction technique von Mitra, S., Kee Sup Kim

Veröffentlicht in IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems

Volltext
Artikel

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
2

Robust system design with built-in soft-error resilience von Mitra, S., Seifert, N., Zhang, M., Shi, Q., Kim, K.S.

Veröffentlicht in Computer (Long Beach, Calif.)

Volltext
Artikel

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
3

Built-In Soft Error Resilience for Robust System Design von Mitra, S., Ming Zhang, Seifert, N., Mak, T.M., Kee Sup Kim

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
4

Sequential Element Design With Built-In Soft Error Resilience von Ming Zhang, Mitra, S., Mak, T.M., Seifert, N., Wang, N.J., Quan Shi, Kee Sup Kim, Shanbhag, N.R., Patel, S.J.

Veröffentlicht in IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems

Volltext
Artikel

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
5

Combinational Logic Soft Error Correction von Mitra, S., Ming Zhang, Waqas, S., Seifert, N., Gill, B., Kee Sup Kim

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
6

X-compact: an efficient response compaction technique for test cost reduction von Mitra, S., Kee Sup Kim

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
7

Early-life-failure detection using SAT-based ATPG von Sauer, Matthias, Young Moon Kim, Jun Seomun, Hyung-Ock Kim, Kyung-Tae Do, Jung Yun Choi, Kee Sup Kim, Mitra, Subhasish, Becker, Bernd

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
8

Hierarchical Test Compression for SoC Designs von Kim, Kee Sup, Zhang, Ming

Veröffentlicht in IEEE design & test of computers

Volltext
Artikel

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
9

Framework for massively parallel testing at wafer and package test von Baba, A.H., Kee Sup Kim

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
10

A 0.65V embedded SDRAM with smart boosting and power management in a 45nm CMOS technology von Suk-Soo Pyo, Jun-Sung Kim, Jung-Han Kim, Hyun-Taek Jung, Tae-Joong Song, Cheol-Ha Lee, Gyu-Hong Kim, Young-Keun Lee, Kee-Sup Kim

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
11

Logic soft errors: a major barrier to robust platform design von Mitra, S., Ming Zhang, Mak, T.M., Seifert, N., Zia, V., Kee Sup Kim

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
12

XMAX: a practical and efficient compression architecture von Kee Sup Kim

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
13

Delay defect characteristics and testing strategies von Kee Sup Kim, Mitra, S., Ryan, P.G.

Veröffentlicht in IEEE design & test of computers

Volltext
Artikel

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
14

XPAND: an efficient test stimulus compression technique von Mitra, S., Kim, K.S.

Veröffentlicht in IEEE transactions on computers

Volltext
Artikel

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
15

Panel 4A: Apprentice - VTS edition: Season 3 von Kim, Kee Sup

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
16

Panel 12C: Apprentice - VTS edition judging session von Kim, Kee Sup

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
17

Apprentice - VTS edition: Season 4 von Kee Sup Kim, Roy, R

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
18

Panel: Apprentice - VTS Edition: Season 2 von Kim, Kee Sup

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
19

DPDAT: data path direct access testing von Kee Sup Kim, Jayabharathi, R., Carstens, C., Vishakantaiah, P., Feltham, D., Carbine, A.

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
20

Robust platform design in advanced VLSI technologies von Leavins, D.J., Kee Sup Kim, Subhasish Mitra, Rodriguez, E.J.

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
Nächster
[30]

X-compact: an efficient response compaction technique von Mitra, S., Kee Sup Kim

Robust system design with built-in soft-error resilience von Mitra, S., Seifert, N., Zhang, M., Shi, Q., Kim, K.S.

Built-In Soft Error Resilience for Robust System Design von Mitra, S., Ming Zhang, Seifert, N., Mak, T.M., Kee Sup Kim

Sequential Element Design With Built-In Soft Error Resilience von Ming Zhang, Mitra, S., Mak, T.M., Seifert, N., Wang, N.J., Quan Shi, Kee Sup Kim, Shanbhag, N.R., Patel, S.J.

Combinational Logic Soft Error Correction von Mitra, S., Ming Zhang, Waqas, S., Seifert, N., Gill, B., Kee Sup Kim

X-compact: an efficient response compaction technique for test cost reduction von Mitra, S., Kee Sup Kim

Early-life-failure detection using SAT-based ATPG von Sauer, Matthias, Young Moon Kim, Jun Seomun, Hyung-Ock Kim, Kyung-Tae Do, Jung Yun Choi, Kee Sup Kim, Mitra, Subhasish, Becker, Bernd

Hierarchical Test Compression for SoC Designs von Kim, Kee Sup, Zhang, Ming

Framework for massively parallel testing at wafer and package test von Baba, A.H., Kee Sup Kim

A 0.65V embedded SDRAM with smart boosting and power management in a 45nm CMOS technology von Suk-Soo Pyo, Jun-Sung Kim, Jung-Han Kim, Hyun-Taek Jung, Tae-Joong Song, Cheol-Ha Lee, Gyu-Hong Kim, Young-Keun Lee, Kee-Sup Kim

Logic soft errors: a major barrier to robust platform design von Mitra, S., Ming Zhang, Mak, T.M., Seifert, N., Zia, V., Kee Sup Kim

XMAX: a practical and efficient compression architecture von Kee Sup Kim

Delay defect characteristics and testing strategies von Kee Sup Kim, Mitra, S., Ryan, P.G.

XPAND: an efficient test stimulus compression technique von Mitra, S., Kim, K.S.

Panel 4A: Apprentice - VTS edition: Season 3 von Kim, Kee Sup

Panel 12C: Apprentice - VTS edition judging session von Kim, Kee Sup

Apprentice - VTS edition: Season 4 von Kee Sup Kim, Roy, R

Panel: Apprentice - VTS Edition: Season 2 von Kim, Kee Sup

DPDAT: data path direct access testing von Kee Sup Kim, Jayabharathi, R., Carstens, C., Vishakantaiah, P., Feltham, D., Carbine, A.

Robust platform design in advanced VLSI technologies von Leavins, D.J., Kee Sup Kim, Subhasish Mitra, Rodriguez, E.J.

Suchwerkzeuge:

Treffer weiter einschränken

Eingrenzen

Format

Zeitschriftentitel

Schlagworte

Erscheinungsjahr

Quelle