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Novel Scanning Ion Microscope with H3+ Gas Field Ionization Source
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Micromachining and device transplantation using focused ion beam
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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Proposal for device transplantation using a focused ion beam
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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Emission of doubly charged dimer ions from liquid-metal ion sources
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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