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X-ray diffraction analysis of cubic zincblende III-nitrides
Veröffentlicht in Journal of physics. D, Applied physics
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InGaN as a Substrate for AC Photoelectrochemical Imaging
Veröffentlicht in Sensors (Basel, Switzerland)
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Dislocations in AlGaN: Core Structure, Atom Segregation, and Optical Properties
Veröffentlicht in Nano letters
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The Spatial Distribution of Threading Dislocations in Gallium Nitride Films
Veröffentlicht in Advanced materials (Weinheim)
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Surface Zeta Potential and Diamond Seeding on Gallium Nitride Films
Veröffentlicht in ACS omega
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Investigation of stacking faults in MOVPE-grown zincblende GaN by XRD and TEM
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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