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Rotatable broadband retarders for far-infrared spectroscopic ellipsometry
Veröffentlicht in Thin solid films
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Microcrystalline silicon thin films studied using spectroscopic ellipsometry
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Ellipsometry on uniaxial ZnO and Zn1−xMgxO thin films grown on (0001) sapphire substrate
Veröffentlicht in Thin solid films
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Mueller matrices for anisotropic metamaterials generated using 4×4 matrix formalism
Veröffentlicht in Thin solid films
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Mueller matrices for anisotropic metamaterials generated using 4A-4 matrix formalism
Veröffentlicht in Thin solid films
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