Universal Digital Probe Electrometer for Testing Semiconductor Wafers von Zharin, A. L., Mikitsevich, U. A., Svistun, A. I., Pantsialeyeu, K. U.

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X-ray Diffraction Method in the Study of a Metal Surface Stress State Under Static and Impact Deformation von Kren, A. P., Delendik, M. N., Matsulevich, O. V., Gusev, O. K., Pantsialeyeu, K. U., Vorobey, R. I.

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Intelligent Sensor for Measurement Systems with Sinusoidal Excitation Response von Mikitsevich, U. A., Svistun, A. I., Samarina, A. V., Pantsialeyeu, K. U., Zharin, A. L.

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Charge-Sensitive Technique for Deformation Processes’ Study von Pantsialeyeu, K. U., Mikitsevich, U. A., Svistun, A. I., Vorobey, R. I., Gusev, O. K., Zharin, A. L.

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Surface Electric Potential Measurement with a Static Probe von Vorobey, R. I., Gusev, O. K., Zharin, A. I., Mikitsevich, V. A., Pantsialeyeu, K. U., Samarina, A. V., Svistun, A. I., Tyavlovsky, A. K., Tyavlovsky, K. L.

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Series of Photovoltaic Converters Based on Semiconductors with Intrinsic Photoconductivity von Vorobey, R. I., Gusev, O. K., Zharin, A. L., Pantsialeyeu, K. U., Svistun, A. I., Tyavlovsky, A. K., Tyavlovsky, K. L., Shadurskaya, L. I.

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DESIGN OF THE CONTACT POTENTIALS DIFFERENCE PROBES von Pantsialeyeu, K. U., Mikitsevich, U. A., Zharin, A. L.

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ANALYSIS OF THE ELECTROPHYSICAL AND PHOTOELECTRIC PROPERTIES OF NANOCOMPOSITE POLYMERS BY THE MODIFIED KELVIN PROBE von Pantsialeyeu, K. U., Krautsevich, A. U., Rovba, I. A., Lysenko, V. I., Vorobey, R. I., Gusev, O. K., Zharin, A. L.

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DIGITAL CONTACT POTENTIAL DIFFERENCE PROBE von Pantsialeyeu, K. U., Svistun, A. I., Tyavlovsky, A. K., Zharin, A. L.

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CONTROL OF METAL SURFACES MACHINED IN ACCORDANCE WITH THE DIAMOND NANOMACHINING TECHNOLOGY BASED ON THE ELECTRON WORK FUNCTION von G. V. Sharonov, A. L. Zharin, N. I. Muhurov, K. U. Pantsialeyeu

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ANALYSIS OF SURFACE DEFECTS OF ALUMINUM AND ITS ALLOYS WITH A SCANNING KELVIN PROBE von Tyavlovsky, A. K., Zharin, A. L., Gusev, O. K., Varabei, R. I., Muhurov, N. I., Sharonov, G. V., Pantsialeyeu, K. U.

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