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The manner of decreasing disturbances in the course of electron beam in chamber of scanning electron microscope and a shield for diminishing of these disturbances
von
K TCKI JERZY
,
CZERWI SKI ANDRZEJ
,
RATAJCZAK JACEK
,
P USKA MARIUSZ
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The manner of determination of shape of object from image made according to the method of electron scanning microscopy
von
K TCKI JERZY
,
CZERWI SKI ANDRZEJ
,
WZOREK MAREK
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The manner of measurement of surface resistance of over-coupling layers in optoelectronic semi-conductive structures with p-n joint
von
K TCKI JERZY
,
CZERWI SKI ANDRZEJ
,
RATAJCZAK JACEK
,
P USKA MARIUSZ
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The manner of decreasing disturbances in the course of electron beam in chamber of scanning electron microscope and a shield for diminishing of these disturbances
von
K TCKI JERZY
,
CZERWI SKI ANDRZEJ
,
RATAJCZAK JACEK
,
P USKA MARIUSZ
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5
The manner of determination of participation of electric disturbances and magnetic disturbances in column of scanning electron microscope
von
K TCKI JERZY
,
CZERWI SKI ANDRZEJ
,
RATAJCZAK JACEK
,
P USKA MARIUSZ
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6
Elektrodowy nanosensor biochemiczny oraz sposób wytwarzania elektrodowego nanosensera biochemicznego
von
K TCKI JERZY
,
CZERWI SKI ANDRZEJ
,
RATAJCZAK JACEK
,
ASZCZ MARTA
,
NOGALA WOJCIECH
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7
Method for the measurement of the electron beam current needed in quantitative evaluation of electron beam induced current
von
K TCKI JERZY
,
CZERWI SKI ANDRZEJ
,
RATAJCZAK JACEK
,
P USKA MARIUSZ
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8
The manner of determination of magnetic field induction present in chamber of scanning electron microscope
von
K TCKI JERZY
,
CZERWI SKI ANDRZEJ
,
OSKWAREK UKASZ
,
RATAJCZAK JACEK
,
P USKA MARIUSZ
,
RAK REMIGIUSZ
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9
The manner of measurement of resistance of semi-conductor layers
von
K TCKI JERZY
,
CZERWI SKI ANDRZEJ
,
RATAJCZAK JACEK
,
P USKA MARIUSZ
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10
The manner of determination of magnetic field induction present in chamber of scanning electron microscope
von
K TCKI JERZY
,
CZERWI SKI ANDRZEJ
,
OSKWAREK UKASZ
,
RATAJCZAK JACEK
,
P USKA MARIUSZ
,
RAK REMIGIUSZ
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11
The manner of measurement of resistance of semi-conductor layers
von
K TCKI JERZY
,
CZERWI SKI ANDRZEJ
,
RATAJCZAK JACEK
,
P USKA MARIUSZ
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12
Periodic distortion in the scanning electron microscope elimination method
von
K TCKI JERZY
,
CZERWI SKI ANDRZEJ
,
RATAJCZAK JACEK
,
P USKA MARIUSZ
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Coating Metallic Material
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Inhibiting Corrosion Of Metallic Material Or Incrustation Ingeneral
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Esp@Cenet
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