Investigation of residual stresses in microsystems using X-ray diffraction von Kämpfe, Bernd

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Application of Energy Dispersive X-Ray Diffraction for the Efficient Investigation of Internal Stresses in Thin Films von Fritsche, Gudrun, Kämpfe, B., Zschenderlein, Uwe, Schultrich, Bernd

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Raman spectroscopic and X-ray investigation of stressed states in diamond-like carbon films von Krawietz, R., Kämpfe, B., Auerswald, E., Brücher, M.

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Ausgewählte Untersuchungsverfahren in der Metallkunde von Dlubek, Günter, Hunger, Hans-Jörg, Kämpfe, Bernd, Käufler, Peter, Klöber, Jürgen, Richter, Carl-Ernst, Simmen, Burckhard, Vöhse, Hubert, Werfel, Frank, Wieser, Egbert, Wolf, Gert

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Investigation of residual stresses in microsystems using x-ray diffraction von Kampfe, B

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Stress Analysis Using an Area Detector von Kämpfe, B., Schubert, A., Michel, Bernd

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Ausgewählte Untersuchungsverfahren in der Metallkunde von Dlubek, G, Kämpfe, B, Käufler, P, Klöber, J, Richter, C. -E, Simmen, B, Vöhse, H, Werfel, F, Wieser, E, Wolf, G

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X‐Ray Stress Analysis by Use of an Area Detector von Schubert, A., Kämpfe, B., Goldenbogen, S.

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X-Ray Analysis of Residual Stresses and Textures in Thin Coatings von Kämpfe, B., Schubert, A., Auerswald, E.

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Interpretation of X-Ray Stress Measurements von Kämpfe, B., Skurt, L., Krause, F.

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Smart charging in daily routine – expectations, experiences, and preferences of potential users von Schmalfuß, Franziska, Kreußlein, M., Mair, C., Döbelt, S., Heller, C., Wüstemann, R., Kämpfe, B., Krems, J. F.

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Use of an X-Ray Imaging Plate for Stress Analysis von Schubert, A., Kämpfe, B., Tränkner, K., Ermrich, M., Auerswald, E.

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Zur Bestimmung der Gitterkonstanten und der Orientierung nichtkubischer Kristalle mit der Pseudo‐Kossel‐Technik von Kämpfe, B., Klimanek, P.

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Ausgewahlte Untersuchungsverfahren in der Metallkunde von Dlubek, G, Kampfe, B, Kaufler, P, Klober, J, Richter, C.-E, Simmen, B, Vohse, H, Werfel, F, Wieser, E, Wolf, G, Hunger, H.-J

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Silicon doped hafnium oxide (HSO) and hafnium zirconium oxide (HZO) based FeFET: A material relation to device physics von Ali, T., Polakowski, P., Riedel, S., Büttner, T., Kämpfe, T., Rudolph, M., Pätzold, B., Seidel, K., Löhr, D., Hoffmann, R., Czernohorsky, M., Kühnel, K., Thrun, X., Hanisch, N., Steinke, P., Calvo, J., Müller, J.

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Stress analysis using an area detector von Schubert, A, Michel, B, Kampfe, B

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Quantitative X-ray diffraction analysis of textured sheet metals von Kämpfe, B., Patzelt, P., Nestler, C.-G.

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Zur Bestimmung der Gitterkonstanten und der Orientierung nichtkubischer Kristalle mit der Pseudo-Kossel-Technik von Kämpfe, B., Klimanek, P.

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Röntgenographische Bestimmung von Gitterdefekten in Magnetiten von Nestler, C.‐G., Kämpfe, B., Faust, A., Lange, D.

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Gray matter decrease in patients with chronic tension type headache von SCHMIDT-WILCKE, T, LEINISCH, E, STRAUBE, A, KÄMPFE, N, DRAGANSKI, B, DIENER, H. C, BOGDAHN, U, MAY, A

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