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    Wideband Microwave Reflectometry for Rapid Detection of Dissimilar and Aged ICs

    Wideband Microwave Reflectometry for Rapid Detection of Dissimilar and Aged ICs von Shinde, Satyajeet, Jothibasu, Sasi, Ghasr, Mohammad Tayeb, Zoughi, Reza


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    Rayleigh backscattering based macrobending single mode fiber for distributed refractive index sensing

    Rayleigh backscattering based macrobending single mode fiber for distributed refractive index sensing von Du, Yang, Jothibasu, Sasi, Zhuang, Yiyang, Zhu, Chen, Huang, Jie


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    Unclonable Optical Fiber Identification Based on Rayleigh Backscattering Signatures

    Unclonable Optical Fiber Identification Based on Rayleigh Backscattering Signatures von Yang Du, Jothibasu, Sasi, Yiyang Zhuang, Chen Zhu, Jie Huang

    Veröffentlicht in Journal of lightwave technology

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    MICROWAVE REFLECTOMETRY FOR PHYSICAL INSPECTIONS

    MICROWAVE REFLECTOMETRY FOR PHYSICAL INSPECTIONS von Jothibasu, Sasi, Shinde, Satyajeet, Zoughi, Reza, Ghasr, Mohammad Tayeb

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    MICROWAVE REFLECTOMETRY FOR PHYSICAL INSPECTIONS

    MICROWAVE REFLECTOMETRY FOR PHYSICAL INSPECTIONS von GHASR, Mohammad Tayeb, ZOUGHI, Reza, SHINDE, Satyajeet, JOTHIBASU, Sasi

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