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    Risk-Driven and Mitigation-Focused SEFI Testing of NAND Flash Devices

    Risk-Driven and Mitigation-Focused SEFI Testing of NAND Flash Devices von Wilcox, Ted, Joplin, Matt, Campola, Michael

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    Single-Event Effect Test Report Texas Instruments DS25BR100 LVDS Buffer

    Single-Event Effect Test Report Texas Instruments DS25BR100 LVDS Buffer von Wilcox, Ted, Campola, Michael, Joplin, Matt

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    Single-Event Effect Test Report International Rectifier 80SCLQ060SCS Schottky Diode

    Single-Event Effect Test Report International Rectifier 80SCLQ060SCS Schottky Diode von Wilcox, Ted, Campola, Michael, Joplin, Matt

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