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A New Wafer Level Latent Defect Screening Methodology for Highly Reliable DRAM Using a Response Surface Method
von
Junghyun Nam
,
Sunghoon Chun
,
Gibum Koo
,
Yanggi Kim
,
Byungsoo Moon
,
Jonghyoung Lim
,
Jaehoon Joo
,
Sangseok Kang
,
Hoonjung Kim
,
Kyeongseon Shin
,
Kisang Kang
,
Sungho Kang
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2
Analysis of dynamic retention characteristics of NWL scheme in high density DRAM
von
Myungjae Lee
,
Hyungshin Kwon
,
Jonghyoung Lim
,
Hongsun Hwang
,
SeongJin Jang
,
Yonghan Roh
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Methods of operating buffered multi-rank memory modules configured to selectively link rank control signals
von
Yun Young
,
Kim Seokil
,
Shin Huichong
,
Lim Jonghyoung
,
Kim Tae-Hyung
,
Han Youkeun
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Patent
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METHODS OF OPERATING BUFFERED MULTI-RANK MEMORY MODULES CONFIGURED TO SELECTIVELY LINK RANK CONTROL SIGNALS
von
KIM SEOKIL
,
LIM JONGHYOUNG
,
YUN YOUNG
,
KIM TAE-HYUNG
,
SHIN HUICHONG
,
HAN YOUKEUN
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Patent
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5
Buffered multi-rank memory modules configured to selectively link rank control signals and methods of operating the same
von
Yun Young
,
Kim Seokil
,
Shin Huichong
,
Lim Jonghyoung
,
Kim Tae-Hyung
,
Han Youkeun
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Patent
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6
BUFFERED MULTI-RANK MEMORY MODULES CONFIGURED TO SELECTIVELY LINK RANK CONTROL SIGNALS AND METHODS OF OPERATING THE SAME
von
Yun Young
,
Kim Seokil
,
Shin Huichong
,
Lim Jonghyoung
,
Kim Tae-Hyung
,
Han Youkeun
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