CHARM High-Energy Ions for Microelectronics Reliability Assurance (CHIMERA) von Bilko, Kacper, Alia, Ruben Garcia, Costantino, Alessandra, Coronetti, Andrea, Danzeca, Salvatore, Delrieux, Marc, Emriskova, Natalia, Fraser, Matthew Alexander, Girard, Sylvain, Johnson, Eliott Philippe, Sebban, Marc, Ravotti, Federico, Waets, Andreas

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CHARM High-energy Ions for Micro Electronics Reliability Assurance (CHIMERA) von Bilko, Kacper, Alía, Rubén García, Constantino, Alessandra, Coronetti, Andrea, Danzeca, Salvatore, Delrieux, Marc, Emriskova, Natalia, Fraser, Matthew Alexander, Girard, Sylvain, Johnson, Eliott Philippe, Sebban, Marc, Ravotti, Federico, Waets, Andreas

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The trigger and data acquisition system of the FASER experiment von Abreu, H., Amin Mansour, E., Antel, C., Ariga, A., Ariga, T., Bernlochner, F., Boeckh, T., Boyd, J., Brenner, L., Cadoux, F., Casper, D.W., Cavanagh, C., Chen, X., Coccaro, A., Débieux, S., Dmitrievsky, S., D'Onofrio, M., Dozen, C., Favre, Y., Fellers, D., Feng, J.L., Ferrere, D., Gamberini, E., Galantay, E.K., Gibson, S., Gonzalez-Sevilla, S., Gornushkin, Y., Gwilliam, C., Hsu, S.-C., Hu, Z., Iacobucci, G., Inada, T., Jakobsen, S., Johnson, E., Kajomovitz, E., Kling, F., Kose, U., Kuehn, S., Lefebvre, H., Levinson, L., Li, K., Liu, J., Magliocca, C., McFayden, J., Milanesio, M., Meehan, S., Mladenov, D., Moretti, T., Munker, M., Nakamura, M., Nakano, T., Nessi, M., Neuhaus, F., Nevay, L., Otono, H., Pandini, C., Pang, H., Paolozzi, L., Petersen, B., Pietropaolo, F., Prim, M., Queitsch-Maitland, M., Resnati, F., Rizzi, C., Rokujo, H., Ruiz-Cholis, E., Salfeld-Nebgen, J., Sato, O., Scampoli, P., Schmieden, K., Schott, M., Sfyrla, A., Shively, S., Sipos, R., Spencer, J., Takubo, Y., Tarannum, N., Theiner, O., Torrence, E., Tufanli, S., Vasina, S., Vormwald, B., Wang, D.

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