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In situ imaging ellipsometer using a LiNbO3 electrooptic crystal
Veröffentlicht in Thin solid films
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Lateral ellipsometry resolution for imaging ellipsometry measurement
Veröffentlicht in JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
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Polarization characteristics of diffraction scattering from metal rough surface
Veröffentlicht in Applied surface science
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Correction of large birefringent effect of windows for in situ ellipsometry measurements
Veröffentlicht in Optics letters
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Supercritical fluid deposition of copper into mesoporous silicon
Veröffentlicht in Thin solid films
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General window correction method for ellipsometry measurements
Veröffentlicht in Optics express
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Measurement of diameter of cylindrical openings using a disk beam probe
Veröffentlicht in Optical review (Tokyo, Japan)
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Copper deposition in microporous silicon using supercritical fluid
Veröffentlicht in Thin solid films
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