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The correlation of low frequency optical noise spectrum and electrical noise spectrum in a laser diode, with experimental results
von
Dai, Yisong
,
Shi, Jiesung
,
Zhang, Xinfa
,
Shi, Jiawel
,
Jin, Ensun
Veröffentlicht in
Solid-state electronics
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An improved approach and experimental results of a low-frequency noise measurement technique used for reliability estimation of diode lasers
von
Jiawei, Shi
,
Ensun, Jin
,
Jing, Ma
,
Yisong, Dai
,
Xinfa, Zhang
Veröffentlicht in
Microelectronics and reliability
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3
b and its temperature dependence are the important criteria of the reliability of semiconductor lasers
von
Jiawei, Shi
,
Ensun, Jin
,
Jing, Ma
,
Dingsan, Gao
Veröffentlicht in
Microelectronics and reliability
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Artikel
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4
A study of optical noise measurement as a reliability estimation for laser diodes
von
Dai, Yisong
,
Shi, Jiesung
,
Zhang, Xinfa
,
Shi, Jiawel
,
Jin, Ensun
Veröffentlicht in
Microelectronics and reliability
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