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A novel HBT trigger SCR in 0.35 μm SiGe BiCMOS technology
Veröffentlicht in Journal of semiconductors
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High holding voltage SCRs with segmented layout for high-robust ESD protection
Veröffentlicht in Electronics letters
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Device fault diagnosis method based on digital twin server
Veröffentlicht in Journal of physics. Conference series
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Bidirectional silicon-controlled rectifier for advanced ESD protection applications
Veröffentlicht in Electronics letters
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