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Methods and devices of check the glass blemish and foreign bodies
von
JENG, JYH-JYE
,
CHANG, HSIN-HUNG
,
LU, SHANGIEH
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Method of circuitry detection
von
JENG, JYH-JYE
,
HUANG, KUO-TANG
,
LU, SHANGIEH
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Method of circuitry detection
von
LU, SHANG CHIEH
,
JENG, JYH JYE
,
HUANG, KUO TANG
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Flatness measurement device and measuring method thereof
von
LU, SHANG CHIEH
,
HUANG, KUO TANG
,
JENG, JYH JYE
,
CHANG, CHIN KUEI
,
TSAI, YA HUI
,
LI, WEI CHEN
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Patent
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Flatness measurement device and measuring method thereof
von
TSAI, YA-HUI
,
JENG, JYH-JYE
,
HUANG, KUO-TANG
,
CHANG, CHIN-KUEI
,
LI, WEIN
,
LU, SHANGIEH
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Method and device for measuring 3-d article without contacting
von
LI, PO YI
,
JENG, JYH JYE
,
SU, YUN TE
,
CHOU, MING HUNG
,
LIN, YU TING
,
CHANG, KAI HSIANG
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7
Method and device for measuring 3-D article without contacting
von
CHOU, MING-HUNG
,
SU, YUN-TE
,
LI, PO-YI
,
JENG, JYH-JYE
,
CHANG, KAI-HSIANG
,
LIN, YU-TING
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Patent
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8
Methods and devices of check the glass blemish and foreign bodies
von
JENG, JYH-JYE
,
CHANG, HSIN-HUNG
,
LU, SHANGIEH
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9
Automatic defect inspection device for substrate laser repair and method thereof
von
CHANG, CHUN-LUNG
,
HUNG, CHAO-YANG
,
JENG, JYH-JYE
,
LU, SHANGIEH
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10
Optical inspection device
von
HUANG, WEI-ZANG
,
HUNG, CHAO-YANG
,
JENG, JYH-JYE
,
LU, SHANGIEH
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Patent
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11
Method and apparatus for inspecting the contours of a gear
von
CHANG
,
JUNG-LUNG
,
HWANG
,
CHUNG-MU
,
LIN
,
CHIEH-YU
,
CHEN
,
HSIEN-YEI
,
WANG
,
RUEY-YANG
,
JENG
,
JYH-JYE
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Patent
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12
Identification of immunodominant, group-specific and subcomplex-specific, continuous epitopes in the core regions of Japanese encephalitis virus using synthetic peptides
von
Huang, J H
,
Wey, J J
,
Lee, H F
,
Tsou, T L
,
Wu, C S
,
Wu, J R
,
Chen, H M
,
Chin, C
,
Chien, L J
,
Chen, L K
,
Wu, Y C
,
Pan, M J
,
Wang, T M
Veröffentlicht in
Virus research
Volltext
Artikel
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13
Manufacturing method of polysilicon conductive line
von
JEAN, SHAN-JYE
,
JENG, JYH-SHYANG
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